完整英文版 IEC 60749-16：2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16：Particle impact noise detection (PINO)-半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 16 部分：粒子撞击噪声检测（PINO）。定义一种测试，旨在检测空腔器件内部是否存在松散颗粒，例如陶瓷芯片、焊线片或焊球（小球）。

完整英文版 IEC 60749-17：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17： Neutron irradiation（半导体器件--机械和气候测试方法--第17部分：中子辐照）。执行 IEC 60749-17:2019 以确定半导体设备对非电离能量损失 (NIEL) 退化的敏感性。 此处描述的测试适用于集成电路和分立半导体器件，旨在用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1017 保持一致，包括取消文件使用限制以及限制总电离剂量的要求； - 增加了参考书目，包括与此测试方法相关的美国 MIL 和 ASTM 标准。

完整英文版 BS EN IEC 60749-18：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18：Ionizing radiation (total dose) -半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分：电离辐射（总剂量）。IEC 60749-18:2019 提供了一个测试程序，用于定义测试封装半导体集成电路和分立半导体器件对来自钴 60 (60Co) 伽马射线源的电离辐射（总剂量）效应的要求。 可以使用其他合适的辐射源。 本文件仅涉及稳态辐照，不适用于脉冲型辐照。 它适用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新子条款以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1019 保持一致，包括使用增强型低剂量率灵敏度 (ELDRS) 测试； - 增加了参考书目，其中包括与该测试方法相关的 ASTM 标准。

完整英文版 IEC 60749-19：2010 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods - Part 19：Die shear strength（半导体器件--机械和气候测试方法--第19部分：芯片剪切强度）。IEC 60749-19:2003+A1:2010确定了用于将半导体芯片连接到封装头或其他基材的材料和程序的完整性。该测试方法一般只适用于腔体封装或作为过程监控。它不适用于芯片面积大于10mm2的情况。它也不适用于倒装芯片技术或柔性基材。这个综合版本包括第一版（2003年）和它的第1修正案（2010年）。因此，不需要在本出版物之外再订购修正案。

完整英文版 IEC 60749-20：2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20：Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat（半导体器件-机械和气候测试方法-第20部分：塑料封装的SMD对湿气和焊接热的综合影响的抵抗力）。IEC 60749-20:2020提供了一种评估封装为塑料封装的表面贴装器件（SMD）的半导体抗焊接热的方法。该测试是破坏性的。本版与上一版相比，包括以下重大技术变化。 - 加入了IEC 60749-20:2008（第二版）的技术更正。 - 加入了新的第3条。 - 增加了解释性说明。

完整英文版 IEC 60749-21：2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21：Solderability （半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第21部分：可焊性 ）。IEC 60749-21:2011 建立了一个标准程序，用于确定使用锡铅 (SnPb) 或无铅 (Pb-free) 焊料连接到另一个表面的器件封装端子的可焊性。 该测试方法提供了通孔、轴向和表面贴装器件 (SMD) 的“浸渍和外观”可焊性测试程序以及 SMD 板安装可焊性测试的可选程序，以便模拟焊接过程 用于设备应用程序。 该测试方法还提供了老化的可选条件。 除非相关规范中另有详细说明，否则该测试被认为是破坏性的。

完整英文版 IEC 60749-22：2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22：Bond strength（半导体器件-机械和气候试验方法-第22部分：结合强度）。该测试适用于半导体器件（分立器件和集成电路），测量粘合强度或确定是否符合规定的粘合强度要求。 2003 年 8 月更正的内容已包含在此副本中。

完整英文版 IEC 60749-23：2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23：High temperature operating life（半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分：高温工作寿命）。IEC 60749-23:2004+A1:2011 用于确定偏置条件和温度随时间推移对固态器件的影响。 它以加速方式模拟设备运行条件，主要用于设备验证和可靠性监控。 一种使用短时间的高温偏置寿命形式，通常称为“老化”，可用于筛查与婴儿死亡率相关的故障。 老化的详细使用和应用不在本标准的范围内。 本合并版由第一版（2004 年）及其修订版 1（2011 年）组成。 因此，除本出版物外，无需订购修改。

完整英文版 IEC 60749-24：2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24：Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST（半导体器件--机械和气候测试方法--第24部分：加速耐湿性--无偏差HAST）。无偏差的高度加速应力测试是为了评估非热包装固态设备在潮湿环境中的可靠性。它采用非冷凝条件下的温度和湿度来加速水分通过外部保护材料或沿着外部保护材料和穿过它的金属导体之间的界面渗透。

行业分类-电子电器-氧化物基电子突触器件及其阵列.zip