完整英文版 IEC 60749-24：2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24：Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST（半导体器件--机械和气候测试方法--第24部分：加速耐湿性--无偏差HAST）。无偏差的高度加速应力测试是为了评估非热包装固态设备在潮湿环境中的可靠性。它采用非冷凝条件下的温度和湿度来加速水分通过外部保护材料或沿着外部保护材料和穿过它的金属导体之间的界面渗透。