完整英文版 IEC 60749-16：2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16：Particle impact noise detection (PINO)-半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 16 部分：粒子撞击噪声检测（PINO）。定义一种测试，旨在检测空腔器件内部是否存在松散颗粒，例如陶瓷芯片、焊线片或焊球（小球）。
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