上传者: Johnho130
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上传时间: 2021-07-24 12:01:59
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文件大小: 587KB
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文件类型: PDF
完整英文版 IEC 60749-16:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16:Particle impact noise detection (PINO)-半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 16 部分:粒子撞击噪声检测(PINO)。定义一种测试,旨在检测空腔器件内部是否存在松散颗粒,例如陶瓷芯片、焊线片或焊球(小球)。