BS EN IEC 60749-18：2019 半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分：电离辐射（总剂量）- 完整英文版（25页）

完整英文版 BS EN IEC 60749-18：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18：Ionizing radiation (total dose) -半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分：电离辐射（总剂量）。IEC 60749-18:2019 提供了一个测试程序，用于定义测试封装半导体集成电路和分立半导体器件对来自钴 60 (60Co) 伽马射线源的电离辐射（总剂量）效应的要求。 可以使用其他合适的辐射源。 本文件仅涉及稳态辐照，不适用于脉冲型辐照。 它适用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新子条款以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1019 保持一致，包括使用增强型低剂量率灵敏度 (ELDRS) 测试； - 增加了参考书目，其中包括与该测试方法相关的 ASTM 标准。