完整英文版 IEC 60749-17：2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17： Neutron irradiation（半导体器件--机械和气候测试方法--第17部分：中子辐照）。执行 IEC 60749-17:2019 以确定半导体设备对非电离能量损失 (NIEL) 退化的敏感性。 此处描述的测试适用于集成电路和分立半导体器件，旨在用于军事和航空航天相关应用。 这是一个破坏性的测试。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： - 更新以更好地使测试方法与 MIL-STD 883J、方法 1017 保持一致，包括取消文件使用限制以及限制总电离剂量的要求； - 增加了参考书目，包括与此测试方法相关的美国 MIL 和 ASTM 标准。