完整英文电子版 JEDEC JESD22-A103E.01：2021 High Temperature Storage Life（高温储存寿命）。本测试适用于所有固态设备的评估、筛选、监控和/或鉴定。 高温存储测试通常用于确定时间和温度在存储条件下对热激活故障机制和固态电子设备（包括非易失性存储设备）的故障时间分布的影响（数据保留故障机制）。 热激活失效机制使用 Arrhenius 方程进行建模以进行加速。 在测试期间，使用加速应力温度而不施加电气条件。 该测试可能具有破坏性，具体取决于时间、温度和包装（如果有）。

本测试适用于所有固态设备的评估、筛选、监控和/或鉴定。 高温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备（包括非易失性存储设备）的热激活故障机制和故障时间分布的影响（数据保留故障机制）。 热激活失效机制使用加速的 Arrhenius 方程建模。 在测试期间，使用加速应力温度而不应用电气条件。 此测试可能具有破坏性，具体取决于时间、温度和包装（如果有）。