JEDEC JESD22-A103E：2015 High Temperature Storage Life（高温储存寿命）- 完整英文版（9页）.pdf
本测试适用于所有固态设备的评估、筛选、监控和/或鉴定。 高温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备（包括非易失性存储设备）的热激活故障机制和故障时间分布的影响（数据保留故障机制）。 热激活失效机制使用加速的 Arrhenius 方程建模。 在测试期间，使用加速应力温度而不应用电气条件。 此测试可能具有破坏性，具体取决于时间、温度和包装（如果有）。
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