JEDEC JESD22-A103E.01:2021 高温储存寿命 - 完整英文电子版(11页)

上传者: Johnho130 | 上传时间: 2022-02-11 11:02:03 | 文件大小: 241KB | 文件类型: PDF
完整英文电子版 JEDEC JESD22-A103E.01:2021 High Temperature Storage Life(高温储存寿命)。本测试适用于所有固态设备的评估、筛选、监控和/或鉴定。 高温存储测试通常用于确定时间和温度在存储条件下对热激活故障机制和固态电子设备(包括非易失性存储设备)的故障时间分布的影响(数据保留故障机制)。 热激活失效机制使用 Arrhenius 方程进行建模以进行加速。 在测试期间,使用加速应力温度而不施加电气条件。 该测试可能具有破坏性,具体取决于时间、温度和包装(如果有)。

文件下载

评论信息

免责申明

【只为小站】的资源来自网友分享,仅供学习研究,请务必在下载后24小时内给予删除,不得用于其他任何用途,否则后果自负。基于互联网的特殊性,【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查;无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查,用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场,基于网友分享,根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定,若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员,zhiweidada#qq.com,请把#换成@,本站将给予最大的支持与配合,做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明