1.通过QRCode.jar包生成二维码，可设置二维码图片格式，二维码图片存放路径，二维码尺寸，二维码颜色 2.二维码扫描内容分为两种，1种为链接式,如：www.zdkc.com,通过链接展示访问的内容，1种为json数据展示，通过扫描二维码展示封装好的json数据 3.通常的二维码都不能满足开发需求，大多数都要设置二维码有效时间来保证安全性,提供2种常见的二维码失效思路，简单易上手 4.提供通过QRCode.jar生成二维码的全部生产线上代码，可直接运行，含有关键注释

完整英文电子版 AEC-Q100H：2014 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits (base document) - 基于失效机制的集成电路应力测试资格认证（基础文件）。 本文档包含一组基于故障机制的压力测试，并定义了最低压力测试驱动的认证要求和集成电路 (IC) 认证的参考测试条件。 这些测试能够激发和促进半导体器件和封装故障。 目标是与使用条件相比以加速的方式促成故障。 不应随意使用这组测试。 应检查每个资格项目： a、任何潜在的新的和独特的故障机制。 b, 这些测试/条件可能导致应用中看不到的故障的任何情况。 c、任何可能对加速度产生不利影响的极端使用条件和/或应用。

完整英文版 JEDEC JEP122H：2016 Failure Mechanisms And Models For Semiconductor Devices （ 半导体器件的失效机制和模型 ）。本标准提供了一份失效机制及其相关激活能或加速因子的清单，当唯一可用的数据是基于在加速应力测试条件下进行的测试时，可用于进行系统失效率估计。要使用的方法是失效率之和法。本标准还为可靠性建模参数的选择提供了指导，即函数形式、表观热活化能值以及对电源电压、基片电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等应力的敏感性。