完整英文电子版 AEC-Q100H：2014 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits (base document) - 基于失效机制的集成电路应力测试资格认证（基础文件）。 本文档包含一组基于故障机制的压力测试，并定义了最低压力测试驱动的认证要求和集成电路 (IC) 认证的参考测试条件。 这些测试能够激发和促进半导体器件和封装故障。 目标是与使用条件相比以加速的方式促成故障。 不应随意使用这组测试。 应检查每个资格项目： a、任何潜在的新的和独特的故障机制。 b, 这些测试/条件可能导致应用中看不到的故障的任何情况。 c、任何可能对加速度产生不利影响的极端使用条件和/或应用。