完整英文版 JEDEC JEP122H：2016 Failure Mechanisms And Models For Semiconductor Devices （ 半导体器件的失效机制和模型 ）。本标准提供了一份失效机制及其相关激活能或加速因子的清单，当唯一可用的数据是基于在加速应力测试条件下进行的测试时，可用于进行系统失效率估计。要使用的方法是失效率之和法。本标准还为可靠性建模参数的选择提供了指导，即函数形式、表观热活化能值以及对电源电压、基片电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等应力的敏感性。