完整英文电子版 IEC 60749-8：2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 8：Sealing （半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 8 部分：密封）。适用于半导体器件（分立器件和集成电路），它决定了半导体器件的泄漏率。 2003 年 4 月和 2003 年 8 月勘误的内容已包含在本副本中。

完整英文电子版 IEC 60749-11：2002 Semiconductor devices –Mechanical and climatic test methods –Part 11：Rapid change of temperature –Two-fluid-bath method （半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第11部分：温度的快速变化 - 双液浴法）。定义了快速变温试验方法和二液浴法。 该测试方法也可以使用较少的循环来测试浸入用于清洁设备的加热液体的效果。 该测试适用于所有半导体器件。 除非相关规范中另有详细说明，否则它被认为是破坏性的。 2003 年 1 月和 2003 年 8 月勘误的内容已包含在本副本中。

完整英文电子版 IEC 60749-12：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12：Vibration，variable frequency （半导体器件 - 机械和气候试验方法-第12部分：振动、变频）。IEC 60749-12:2017 描述了一种测试，用于确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。 这是一个破坏性的测试。 通常适用于空腔型封装

完整英文电子版 IEC 60749-38：2008 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38：Soft error test method for semiconductor devices with memory（半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 38 部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法）。IEC 60749 的这一部分建立了一个程序，用于测量具有存储器的半导体器件在受到高能粒子（例如 alpha 辐射）的影响时的软错误敏感性。 描述了两个测试； 使用 alpha 辐射源的加速测试和（未加速的）实时系统测试，其中任何错误都是在自然发生的辐射条件下产生的，这些辐射可以是 alpha 或其他辐射，例如中子。 为了完全表征带有存储器的集成电路的软错误能力，必须使用额外的测试方法测试器件的宽高能谱和热中子。 这种测试方法可以应用于任何类型的带有存储器件的集成电路。

参考资料1-2-ISO_IEC导则Part2-标准结构和编写的原则与规则-2018第8版.pdf

MPEG-DASH标准文本，2019年12月第四版最新版，275页，不是很好下载。可复制文本矢量版本，非影印版 Information technology — Dynamic adaptive streaming over HTTP (DASH) — Part 1: Media presentation description and segment formats

完整英文版 IEC 61810-2：2017 Electromechanical elementary relays - Part 2：Reliability(机电基本继电器 - 第 2 部分：可靠性)。IEC 61810-2:2017 涵盖了使用适当的统计方法评估耐久性测试的测试条件和规定，以获得继电器的可靠性特性。 本文件适用于被视为非维修项目（即故障后未维修的项目）的机电基本继电器。

完整英文版 IEC 61810-2-1：2017 Electromechanical elementary relays - Part 2-1：Reliability - Procedure for the verification of B10 values（机电基本继电器 - 第 2-1 部分：可靠性 - B10 值的验证程序）。IEC 61810-2-1:2017 规定了适用于可靠性验证的增强要求时的机电基本继电器的可靠性测试程序。 根据 IEC 62061 和 ISO 13849-1，针对机械安全相关控制系统中的继电器给出了特殊规定。 对于此类继电器，危险故障的 B10 值（B10D 值）来自本文件中规定的测试。

完整英文版 IEC 61810-3：2015 Electromechanical elementary relays - Part 3：Relays with forcibly guided (mechanically linked) contacts（机电基本继电器 - 第 3 部分：具有强制引导（机械连接）触点的继电器）。IEC 61810-3:2015 规定了具有强制导向触点（也称为机械连接触点）的基本继电器的特殊要求和测试。 除了 IEC 61810-1 的一般要求之外，这些特殊要求也适用。

完整英文版 BS EN IEC 61810-4：2020 Electromechanical elementary relays - Part 4：General and safety requirements for reed relays（机电基本继电器 - 第 4 部分：簧片继电器的一般和安全要求）。IEC 61810-4:2020 适用于将簧片开关（簧片触点）并入通用控制电路的机电基本继电器。 它根据 IEC 61810 系列和 IEC 62246 系列的部分定义了电气工程或电子学所有领域的基本功能和安全要求。 IEC 61810-4:2020 定义了对 IEC 61810-1 的技术偏差/补充。 它规定了型式试验、例行试验、特殊试验和环境试验，以确认应用的使用条件。