IEC 60749-12:2017 半导体器件 - 机械和气候试验方法-第12部分:振动、变频 - 完整英文电子版(16页)

上传者: Johnho130 | 上传时间: 2021-07-22 18:01:57 | 文件大小: 727KB | 文件类型: PDF
完整英文电子版 IEC 60749-12:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12:Vibration,variable frequency (半导体器件 - 机械和气候试验方法-第12部分:振动、变频)。IEC 60749-12:2017 描述了一种测试,用于确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。 这是一个破坏性的测试。 通常适用于空腔型封装

文件下载

评论信息

免责申明

【只为小站】的资源来自网友分享,仅供学习研究,请务必在下载后24小时内给予删除,不得用于其他任何用途,否则后果自负。基于互联网的特殊性,【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查;无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查,用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场,基于网友分享,根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定,若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员,zhiweidada#qq.com,请把#换成@,本站将给予最大的支持与配合,做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明