完整英文电子版 IEC 60749-12：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12：Vibration，variable frequency （半导体器件 - 机械和气候试验方法-第12部分：振动、变频）。IEC 60749-12:2017 描述了一种测试，用于确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。 这是一个破坏性的测试。 通常适用于空腔型封装
2021-07-22 18:01:57
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