IEC 60749-38：2008 半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 38 部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法 - 完整英文电子版（28页）

完整英文电子版 IEC 60749-38：2008 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38：Soft error test method for semiconductor devices with memory（半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 38 部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法）。IEC 60749 的这一部分建立了一个程序，用于测量具有存储器的半导体器件在受到高能粒子（例如 alpha 辐射）的影响时的软错误敏感性。 描述了两个测试； 使用 alpha 辐射源的加速测试和（未加速的）实时系统测试，其中任何错误都是在自然发生的辐射条件下产生的，这些辐射可以是 alpha 或其他辐射，例如中子。 为了完全表征带有存储器的集成电路的软错误能力，必须使用额外的测试方法测试器件的宽高能谱和热中子。 这种测试方法可以应用于任何类型的带有存储器件的集成电路。