本标准适用于由陶瓷或聚合物半导体材料构成的分立式热敏电阻型设备。这些热敏电阻旨在用作: a) 加热器等自限位装置; b) 限流器、浪涌电流限制器等控制装置; 或者 c) 传感装置。 本标准适用于正温度系数 (PTC) 和负温度系数 (NTC) 类型的器件
2021-07-18 12:04:05 906KB ul 1434 热敏电阻 器件
在MDK5安装完成后,要让 MDK5 支持 STM32F4的开发,还要安装STM32F4的器件支持包:Keil.STM32F4xx_DFP.1.0.8.pack(STM32F4的器件包)
2021-07-18 10:23:06 34.26MB STM32F4 MDK5
1
对vhdl习题汇总,有各类选择,填空题,程序设计题库
2021-07-17 14:14:08 410KB vhdl
1
不需解压的,之前的用的快压是个是个误会 全国大学生电子设计竞赛教程 基于TI器件设计方法
2021-07-16 19:59:37 45MB 基于TI器件
1
ALTERA公司作为全球最大的可编程逻辑器件供应商,可提供 MAX7000S(E)、MAX7000A(AE)、MAX7000B、FLEX6000A、FLEX10KA、FLEX 10KE 等系列产品。这些产品可用于组合逻辑、时序、算法、双端口 RAM、FIFO的设计。在加 ALTERA 公司的 MAX+pulsII 9.62 开发软件集设计输入、处理、校验和器件编程于一体,集成度高,开发周期短。
2021-07-16 15:59:39 38KB CPLD 可编程逻辑器件 选型 MAX7000
1
SILVACO TCAD软件包被遍布全球的半导体厂家用于半导体器件和集成电路的研究、开发、测试和生产中。 SILVACO TCAD软件处于业界领导地位。
2021-07-16 10:26:42 10.16MB 仿真工具
1
完整英文电子版 EIAJ ED-4701/001:2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(General) -半导体器件的环境和耐久性测试方法(通用)。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法,旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中使用的分立半导体器件和集成电路(以下统称为半导体器件)在各种环境条件下的电阻和耐久性。 在其使用、储存和运输过程中出现的各种条件。
2021-07-16 09:04:03 73KB EIAJ ED-4701/001 半导体器件 环境
完整英文电子版 EIAJ ED-4701/100:2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test I) - 半导体器件的环境和耐久性试验方法(寿命试验 I)。本标准规定了环境测试方法和耐久性测试方法(尤其是寿命测试),旨在评估分立半导体器件的电阻和耐久性,以及集成电路(以下统称为半导体器件)主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备,在其使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下。
2021-07-16 09:04:02 67KB EIAJ ED-4701/100 半导体器件 环境
完整英文电子版 EIAJ ED-4701/200:2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test II) -半导体器件的环境和耐久性试验方法(寿命试验 II)。本标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法(特别是寿命试验),旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路(以下统称半导体器件)在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。
2021-07-16 09:04:02 45KB EIAJ ED-4701/200 半导体器件 环境
完整英文电子版 EIAJ ED-4701/300:2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I) - 半导体器件的环境和耐久性试验方法(应力试验 I)。本标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法(特别是应力试验),旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的集成电路(以下统称半导体器件)和分立半导体器件在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。
2021-07-16 09:04:02 778KB EIAJ ED-4701/300 半导体器件 环境