EIAJ ED-4701/100：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 I）- 完整英文电子版（25页）
完整英文电子版 EIAJ ED-4701/100：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test I) - 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 I）。本标准规定了环境测试方法和耐久性测试方法（尤其是寿命测试），旨在评估分立半导体器件的电阻和耐久性，以及集成电路（以下统称为半导体器件）主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备，在其使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下。
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