### DDR JESD标准概述与关键技术点 #### 标题：DDR JESD标准 **DDR JESD标准**是JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）组织为规范双倍数据速率（Double Data Rate, DDR）同步动态随机存取内存（SDRAM）而制定的一系列技术规格文档之一。该标准定义了DDR SDRAM的基本要求，旨在确保不同制造商之间产品的兼容性和互操作性。 #### 描述：关键特性与要求 该规格文档定义了最小集的需求标准，适用于X4、X8和X16配置的DDR SDRAM。厂商会根据自身具体格式提供单独的数据表，这些数据表将包含可选功能或超出基本标准的规格。因此，在设计或选择DDR SDRAM时，除了参考JESD标准外，还需要参考各个制造商提供的详细规格表。 #### 内容概述 文档的第一页概述了DDR SDRAM的关键特性和通用描述： 1. **双倍数据率架构**：DDR SDRAM利用了双倍数据率架构，实现了每个时钟周期内两次数据传输。这种设计极大地提高了内存带宽，从而提升了系统的整体性能。 2. **双向数据选通信号（Data Strobe, DQS）**：为了在接收端准确地捕获数据，DDR SDRAM采用了双向的数据选通信号DQS。DQS信号与数据一同传输，并在读操作中与数据边沿对齐，在写操作中则与数据中心对齐。 3. **差分时钟输入**：DDR SDRAM使用差分时钟输入（CK和CK#），以提高时钟信号的质量并减少噪声干扰。 4. **数据锁相环（DLL）**：通过数据锁相环（DLL）技术来确保DQ和DQS信号的边沿与CK时钟信号的边沿对齐，从而进一步提高数据传输的稳定性。 5. **命令同步**：所有命令都必须在每个CK正沿触发，而数据和数据掩码（DM）则参考DQS的两个边沿进行定位。 6. **四个内部银行**：DDR SDRAM内部包含四个独立的银行，支持并发操作，从而提升访问效率。 7. **数据掩码（DM）**：用于写入操作的数据掩码功能，允许用户有选择性地写入部分数据位而不影响其他位。 8. **突发长度**：支持2、4或8的突发长度选项，以适应不同的数据传输需求。 9. **CAS延迟（CL）**：支持2或2.5个时钟周期的CAS延迟，DDR400还增加了CL=3的支持。 10. **自动预充电**：每个突发访问后可选择自动预充电选项，以提高系统效率。 11. **自动刷新和自刷新模式**：提供了自动刷新和自刷新两种模式，以维持存储器中的数据完整性。 12. **电源电压**： - VDDQ：对于DDR200、266或333，电压范围为+2.5V±0.2V；对于DDR400，则为+2.6±0.1V。 - VDD：对于DDR200、266或333，电压范围为+3.3V±0.3V或+2.5V±0.2V；对于DDR400，则为+2.6±0.1V。 13. **通用描述**：DDR SDRAM是一种高速CMOS动态随机存取内存，内部配置为四银行DRAM。它包含了不同的位数容量，例如64Mb（67,108,864位）、128Mb（134,217,728位）、256Mb（268,435,456位）、512Mb（536,870,912位）和1Gb（1,073,741,824位）等。 ### 总结 DDR SDRAM标准的核心在于通过采用双倍数据率架构、双向数据选通信号（DQS）、差分时钟输入、数据锁相环（DLL）以及支持多个内部银行等关键技术，显著提高了内存带宽和访问速度。同时，该标准还规定了一系列电源电压和接口要求，确保了DDR SDRAM芯片之间的兼容性和互操作性。这些特点使得DDR SDRAM成为了高性能计算、服务器、工作站以及消费电子设备中不可或缺的重要组件。

JESD47I是一种标准，它是由电子工业联盟（JEDEC）所制定的。 该标准的全称是"JESD47I: 电子零部件的环境适应性规范"。 它的主要目的是为电子零部件的环境适应性测试提供统一的准则和方法。 JESD47I标准将电子零部件的环境适应性分为四个方面进行测试，其中包括高温、低温、恒温和温度循环测试。 这些测试可以帮助制造商评估电子零部件在不同环境条件下的性能和可靠性。 ### JESD47I测试标准详解 #### 一、标准概述 JESD47I是一种由电子工业联盟（JEDEC）制定的标准，全称为“JESD47I: 电子零部件的环境适应性规范”。该标准旨在为电子零部件的环境适应性测试提供一套统一的准则和方法。通过这一标准，制造商可以有效地评估电子零部件在不同环境条件下的性能与可靠性。 #### 二、标准背景与目的 随着电子技术的发展，电子零部件被广泛应用到各种环境中，包括极端的高温或低温条件。因此，确保这些零部件能够在各种环境下正常工作变得尤为重要。JESD47I标准的制定，就是为了满足这种需求。通过对电子零部件进行一系列严格的测试，制造商能够确保其产品满足特定的性能指标，并在预期的应用环境中稳定运行。 #### 三、测试分类与内容 根据JESD47I标准，电子零部件的环境适应性测试主要分为四个大类： 1. **高温测试**：用于评估电子零部件在高温条件下的性能。这类测试通常会模拟实际应用中的最高温度环境，以确保零部件能够在此条件下正常工作。 2. **低温测试**：与高温测试相反，低温测试旨在评估零部件在极低温度下的性能。这对于那些可能在寒冷环境中使用的电子设备尤其重要。 3. **恒温测试**：此类测试是在一个稳定的温度下进行，用于评估零部件在长时间处于固定温度条件下的性能变化情况。 4. **温度循环测试**：这是一种综合性的测试方法，通过模拟温度的快速变化来评估零部件在温度频繁波动时的性能表现。这类测试对于模拟实际应用中的温度变化非常有效。 #### 四、标准的重要性 1. **提高产品质量**：通过遵循JESD47I标准进行测试，制造商可以确保其产品的质量和可靠性达到一定的水平。 2. **降低成本**：标准的实施有助于减少因零部件故障导致的产品召回或保修成本。 3. **促进互换性**：遵循统一的测试标准有助于提高不同制造商之间零部件的互换性。 4. **增强市场信心**：消费者和客户更倾向于购买经过严格测试并通过认证的产品，这有助于提升品牌的市场竞争力。 #### 五、标准的应用范围 JESD47I标准适用于各种类型的电子零部件，包括但不限于集成电路（IC）、电容器、电阻器等。无论是消费电子产品还是工业应用，甚至是航空航天领域，该标准都能够提供有价值的指导和支持。 #### 六、结语 JESD47I标准对于确保电子零部件的质量和可靠性具有重要意义。通过实施这一标准，制造商不仅能够提升自身产品的竞争力，还能够为整个电子行业的发展做出贡献。对于电子零部件的制造商来说，了解并掌握JESD47I标准的相关知识和技术是非常必要的。

JEDEC 正式版 DDR5 内存规范，全492页。本标准文档定义了DDR5 SDRAM规范，包括特性、功能、AC和DC特性、封装和球/信号分配。基于DDR4标准（JESD79-4）和DDR、DDR2、DDR3和LPDDR4标准（JESD79、JESD79-2、JESD79-3和JESD209-4）。

JESD79-4 2012 9月版本 DDR4 SDRAM STANDARD (From JEDEC Board Ballot JCB-12-40, formulated under the cognizance of the JC-42.3 Subcommittee on DRAM Memories.)

JESD204串行接口，JESD 204B Ti 陪训资料，介绍JESD204B的特点等。

2018.3测试可用，各种IP超级齐全，测试了srio可用，Jesd等IP均显示正常，理论上所有版本应该都支持，大家下来看看。可以生成bit流，不用改系统时间，直接导入就行，基本包含全部常用的IP license。

新增的功能旨在满足行业对改善系统可靠性的需求，包括有界故障纠错支持、软包后修复（sPPR）撤销和锁定、内存内置自检包后修复（MBIST和mPPR）、自适应RFM以及MR4扩展。 JESD79-5A将DDR5的时序定义和传输速度扩展到6400MT/s（DRAM核心时序）和5600MT/s（IOAC时序），使业界能够建立一个高达5600MT/s的生态系统。

相关jesd学习资料，用于jesd开发使用说明参考用，主要用于开发jesd协议用。供参考。

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