完整英文电子版 JEDEC JESD22-A110E.01:2020 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) -高加速温度和湿度应力测试 (HAST)。执行高度加速温度和湿度应力测试的目的是评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 它采用严酷的温度、湿度和偏压条件,加速湿气通过外部保护材料(密封剂或密封)或沿着外部保护材料与穿过它的金属导体之间的界面渗透。 应力通常会激活与“85/85”稳态湿度寿命测试(JEDEC 标准编号 22-A101)相同的失效机制。
2022-02-11 11:02:01 185KB JEDEC JESD22-A110E.01 温度 湿度
JESD22-A118B加速抗潮湿性-无偏压HAST
2021-08-11 17:11:27 22KB 标准
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JESD22-A110E高加速温度和湿度应力测试(HAST
2021-08-11 13:03:49 26KB 标准
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完整英文版 IEC 60749-24:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24:Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST(半导体器件--机械和气候测试方法--第24部分:加速耐湿性--无偏差HAST)。无偏差的高度加速应力测试是为了评估非热包装固态设备在潮湿环境中的可靠性。它采用非冷凝条件下的温度和湿度来加速水分通过外部保护材料或沿着外部保护材料和穿过它的金属导体之间的界面渗透。
2021-07-24 12:01:34 798KB iec 60749-24 半导体 加速耐湿性
完整英文电子版JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST)。进行无偏HAST的目的是评估潮湿环境中非气密封装的固态设备的可靠性。 这是一项高度加速的测试,它在非冷凝条件下采用温度和湿度,以加速水分通过外部保护材料(密封剂或密封剂)或沿着外部保护材料与通过该保护层的金属导体之间的界面渗透。 在该测试中未应用偏差,以确保可以发现可能因偏见而被遮盖的失效机制(例如,电腐蚀)。 此测试用于确定包装内部的故障机制,并且具有破坏性。
2021-05-29 09:02:25 198KB JEDEC JESD22-A118B.01 耐湿性 HAST
完整英文电子版JEDEC JESD22-A110E:2015 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) - 高加速温度和湿度应力测试(HAST) 。进行高速加速的温度和湿度应力测试是为了评估潮湿环境中非气密封装的固态器件的可靠性。 它采用严格的温度,湿度和偏压条件,这些条件会加速水分通过外部保护材料(密封剂或密封剂)或沿着外部保护材料与通过该保护层的金属导体之间的界面渗透。 应力通常会激活与“ 85/85”稳态湿度寿命测试(JEDEC标准编号22-A101)相同的失效机制。
2021-05-27 13:03:11 123KB jedec JESD22-A110E 温度 湿度
HAST_lora_main
2021-03-10 14:09:16 5KB C++
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