集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加,而 ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义 ,本文对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析.针对门级的组合电路和时序电路的 ATPG方法具有许多相似之处 ,但也同时存在各自的特点 ,在文中,对这两类电路的方法进行了仔细的比较、区分 .

本次设计使用了串行的方法实现CRC校验和检验电路，其中信息码为16位，生成多项式为9位；CRC校验电路的关键是要弄明白其算法思想和电路的工作原理，即用异或和移位寄存器的组合来实现电路。 采用了自下向上的设计方法，以基于74系列门电路构建电路。并在具体的Altera公司的Cyclone器件库下进行综合，设计时，采用原理图输入法在Quartusll中进行设计和仿真，使整个设计工作更加简单、有效，既增强了设计者对数字集成芯片应用的理解，又体现了现代电子系统设计方法的优越性，仿真结果满足期望，符合要求。

采用门级电路实现4位超前进位加法器，文档含有门级电路图设计，代码以及仿真截图