电磁兼容-ESD静电放电问题整改案例分析，主要应用于静电放电问题的整改

本文介绍了国际标准IEC 61000-4-2 Edition 2 0 2008-12，该标准规定了电磁兼容性（EMC）中的一种测试和测量技术——静电放电抗性测试。该标准适用于电子设备和系统，旨在评估其对静电放电的抵抗能力。本文提供了IEC 61000-4-2（ESD）V2 0_200812的PDF版本。

CMOS集成电路中的电源、地的ESD保护电路设计 ESD保护电路设计

ISO 10605-2008 2014年修改单 ISO 10605-2008_Amd1-2014Amendment1 Roadvehicles.Testmethodsforelectricaldisturbancesfromel

静电如何产生，影响静电的大小因素，静电危害，静电失效机理，三种标准静电释放模式，防静电的几种方法，防静电安全工作区建立

目前的TLP生产厂家有： 美国Barth 电子公司：Barth是世界上最早（60年代）从事TLP产品的公司，其产品以经典、稳定、可靠著称，目前其产品占据全球75％以上市场。主要是Barth4002TLP和Barth4012VF-TLP 美国Thermo keytek仪器公司： Thermo keytek是全球测试仪器的老牌巨头。主要是HBM/MM tester的MK2和ZAP MASTER，以及CDM tester. 美国Oryx公司 日本Hanwa公司 价格上从贵到便宜是：Barth－Oryx－Thermo keytek－Hanwa 稳定可靠性从高到低是：Barth－Oryx－Thermo keytek－Hanwa 标称值上从高到低：Thermo keytek－Oryx－Hanwa－Barth 从操作界面说Hanwa－Oryx－Thermo keytek ～Barth 从使用的用户调查来看：TSMC、UMC前前后后都是使用的是Barth的TLP，而ESD/Lartch-up基本上使用的是Keytech的， SMIC、HHNEC、宜硕以及广州五所使用的是Barth 4002和Keytech的ESD/Lartch-up。 ，GRACE宏利使用的是Oryx。

IEC61000-4-2 标准是国际电工委员会所颁布的一个基础性标准, 它适合于各种电气与电子设备作电磁兼容性的测试 ，IEC61000-4-2 对应国内标准是GB/T 17626.2

手机有几个部分用于人机交互，这样就存在着人体静电放电的ESD问题。手机电路中需要进行ESD防护的部位有：SIM卡插座与CPU读卡电路、键盘电路、耳机、麦克风电路、电源接口、数据接口、USB接口、彩屏LCD驱动接口。 ESD可能会造成手机工作异常、死机，甚至损坏并引发其他的安全问题。

MTK6737平台ESD_CHECK多个寄存器,路径可能有误差，直接搜索.c 文件

完整英文电子版JEDEC JEP164：2022 System Level ESD Part III：Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED) -（系统级 ESD 第 III 部分：ESD 测试回顾及其对系统高效 ESD 设计 (SEED) 的影响）。本白皮书介绍了系统 ESD 现场事件和空气放电测试方法的最新知识。IEC 61000-4-2 (2008) 和 ISO 10605 ESD 标准的测试经验显示了对测试方法及其范围的一系列不同解释。这通常会导致测试方法的误用和测试结果的高不确定性。本白皮书旨在解释观察到的问题并提出改进 ESD 测试标准的建议，并实现与 SEED IC/PCB 协同设计方法的关联。