目前许多高性能ADC设计均采用差分输入。全差分ADC设计具有共模抑制性能出色、二阶失真产物较少、直流调整算法简单的优点。尽管可以单端驱动，但全差分驱动器通常可以优化整体性能。

利用MSP430实现近sigma－delta高精度的ADC设计 一个源码程序

图1.11 12位ADC原理框图 12位 SAR ADC 12+ - + - + - + - 9 -1 AMUX + - X AIN0.0 AIN0.1 AIN0.2 AIN0.3 AIN0.4 AIN0.5 AIN0.6 AIN0.7 AV+ CNVSTR VREF AGND 模拟多路选择器 温度传感器 可编程增益 放大器 配置�控制和 数据寄存器 窗口比较逻辑 窗口 比较 中断 ADC数据 寄存器 转换 结束 中断 写AD0BUSY 定时器3溢出 定时器2溢出 启动转换 外部VREF引脚 DAC0输出 (单端 或 差分)

通过HAL库实现STM32的ADC+DMA， 使用购买的额STM32F103C8T6和光敏传感器验证；

日前，德州仪器(TI)宣布推出速率高达400MSPS的业界最快单片14位模数转换器(ADC)。这款新产品实现了高性能，在400MSPS下的有效位数(ENOB)可达11.1，从而能够支持各种高带宽应用，其中包括测试与测量设备、软件定义无线电、雷达系统以及通信仪表等，这些设备以前只能采用分辨率较低的ADC。     ADS5474采用TI专有BiCom3工艺技术制造而成，通过集成片上缓冲放大器简化了模拟前端(AFE)设计。缓冲放大器消除了采样保持回扫脉冲(sample-and-hold kick-back)，在各种时间与频率下均支持较高的输入阻抗，从而简化了DC至200MHz以上中频(IF)等宽

ADC的一个重要趋势是转向更高的分辨率。这一趋势影响着一系列的应用，包括工厂自动化、温度检测，以及数据采集。对更高分辨率的需求使设计者们从传统的12位SAR(逐次逼近寄存器)ADC，转向分辨率达24位的Δ-Σ ADC。 鉴于当前对更高分辨率的需求，设计者必须更好地了解ADC噪声、ENOB、有效分辨率，以及信噪比。

采用过采样技术提高ADC分辨率,原理值得参考 。

STM32 ADC采样频率的确定

前面我们确定了模数转换器 (ADC) 的分辨率和精度间的差异。现在我们深入研究一下对ADC总精度产生影响的因素，通常是指总不可调整误差 (TUE)。

ADC模块是一个12位、具有流水线结构的模数转换器，用于控制回路中的数据采集。本文提出一种用于提高TMS320F2812ADC精度的方法，使得ADC精度得到有效提高。