MagicEXIF图像校验器，可通过检查照片的各类元数据（EXIF、XMP、厂商注释、MPF等）、JPEG压缩特征、图像直方图等等，准确判断照片是否曾被修改。准确性和识别率均比JPEGsnoop要高，而且鉴定标准更为严格，原图评级机制也更为直观易懂。
2021-07-26 09:59:37
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完整英文电子版 IEC 60749-43：2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 43：Guidelines for IC reliability qualification plans（半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 43 部分：IC 可靠性鉴定计划指南）。IEC 60749-43:2017 给出了半导体集成电路产品 (IC) 可靠性鉴定计划的指南。 本文档不适用于军事和空间相关应用。
2021-07-23 15:01:58
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包含的13份最新英文电子版标准文件是：
1， AEC-Q100H：2014 基于失效机制的集成电路应力测试资格认证（基础文件）- 完整英文电子版（48页）
2， AEC-Q100-001C：1998 Wire Bond Shear Test（线材剪切试验）- 完整英文电子版（14页）
3， AEC-Q100-002E：2013 人体模型（HBM） 静电放电（ESD）测试 - 完整英文电子版（7页）
4， AEC-Q100-003E：2003 机器型号 (MM) 静电放电测试 - 完整英文电子版（14页）
5， AEC-Q100-004D：2012 IC Latch-Up Test（IC锁存测试）- 完整英文电子版（11页）
6， AEC-Q100-005D1：2012 非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和操作寿命测试 - 完整英文电子版（14页）
7， AEC-Q100-006D：2003 电热诱导的寄生门漏电测试（GL - 完整英文电子版（15页）
8， AEC-Q100-007B：2007 Fault Simulation and Test Grading（故障模拟和测试分级）- 完整英文电子版（25页）
9， AEC-Q100-008A：2003 Early Life Failure Rate (早期寿命衰竭率）- 完整英文电子版（6页）
10， AEC-Q100-009B：2007 Electrical Distribution Assessment（配电评估）- 完整英文电子版（10页）
11，AEC-Q100-010A：2003 Solder Ball Shear Test（焊锡球的剪切试验）- 完整英文电子版（7页）
12，AEC-Q100-011D：2019 带电设备模型（CDM） 静电放电测试 - 完整英文电子版（12页）
13， AEC-Q100-012：2006 12V 系统智能功率器件的短路可靠性表征 - 完整英文电子版（14页）
2021-07-14 14:01:46
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完整英文版 JEDEC JESD47K-2018 Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits（集成电路的应力测试驱动的鉴定）。该标准描述了一组基线验收测试，用于将电子元件鉴定为新产品、产品系列或正在更改的过程中的产品。 这些测试能够在未焊接到印刷线路板 (PWB) 或类似物（基础组件可靠性）的独立组件上刺激和沉淀半导体器件和封装故障模式。 目标是与使用条件相比以加速的方式促成故障。 故障率预测通常需要比资格测试中要求的更大的样本量。 有关预测故障率的指南，请参阅 JESD85 以 FIT 为单位计算故障率的方法。
2021-07-13 17:03:24
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