完整英文电子版 IEC 60749-43：2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 43：Guidelines for IC reliability qualification plans（半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 43 部分：IC 可靠性鉴定计划指南）。IEC 60749-43:2017 给出了半导体集成电路产品 (IC) 可靠性鉴定计划的指南。 本文档不适用于军事和空间相关应用。
2021-07-23 15:01:58
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