完整英文电子版 EIAJ ED-4701/001：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(General) -半导体器件的环境和耐久性测试方法(通用)。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法，旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中使用的分立半导体器件和集成电路（以下统称为半导体器件）在各种环境条件下的电阻和耐久性。 在其使用、储存和运输过程中出现的各种条件。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/100：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test I) - 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 I）。本标准规定了环境测试方法和耐久性测试方法（尤其是寿命测试），旨在评估分立半导体器件的电阻和耐久性，以及集成电路（以下统称为半导体器件）主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备，在其使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/200：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Life test II) -半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II）。本标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是寿命试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路（以下统称半导体器件）在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/300：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I) - 半导体器件的环境和耐久性试验方法（应力试验 I）。本标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是应力试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的集成电路（以下统称半导体器件）和分立半导体器件在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/300-3：2006 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I)-Amendment 3（半导体器件的环境和耐久性测试方法（压力测试 I）-修正案 3）。符合 EIAJ ED-4701/300 半导体器件的环境和耐久性测试方法(压力测试 1）。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/400：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test II) - 半导体器件的环境和耐久性测试方法（应力测试II）。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是应力试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路（以下统称半导体器件）在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/500：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Miscellaneous)-半导体器件的环境和耐久性试验方法（杂项）。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是不属于寿命和压力试验的试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路（以下统称半导体器件）在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。

包含的7份英文电子版标准文件是： 1，EIAJ ED-4701/001：2001 半导体器件的环境和耐久性测试方法(通用) - 完整英文电子版（11页） 2，EIAJ ED-4701/100：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 I）- 完整英文电子版（25页） 3，EIAJ ED-4701/200：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II）- 完整英文电子版（15页） 4，EIAJ ED-4701/300：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（应力试验 I）-完整英文电子版（98页） 5，EIAJ ED-4701/300-3：2006 半导体器件的环境和耐久性测试方法（压力测试 I）-修正案 3 - 完整英文电子版（41页） 6. EIAJ ED-4701/400：2001 半导体器件的环境和耐久性测试方法（应力测试II）- 完整英文电子版（24页） 7，EIAJ ED-4701/500：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（杂项） - 完整英文电子版（22页）

完整英文电子版JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）。本标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范（针对循环计数、持续时间、温度和样本大小），或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。

混凝土耐久性研究者