JEDEC JESD22-A117E:2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试 - 完整英文电子版(21页)

上传者: Johnho130 | 上传时间: 2021-06-01 09:02:36 | 文件大小: 209KB | 文件类型: PDF
完整英文电子版JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试)。本标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范(针对循环计数、持续时间、温度和样本大小),或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。

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评论信息

  • weixin_41048275 :
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    2021-11-17
  • m0_57169192 :
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    2021-09-06

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