JEDEC JESD22-A117E：2018 电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试 - 完整英文电子版（21页）
完整英文电子版JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）。本标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范（针对循环计数、持续时间、温度和样本大小），或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。
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weixin_41048275 :用户下载后在一定时间内未进行评价，系统默认好评。2021-11-17 -
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m0_57169192 :用户下载后在一定时间内未进行评价，系统默认好评。2021-09-06
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