描述芯片工作测试点，工作温度指标和测试方案，包公Tj Ta Tc Tb 热敏系数 热阻系数，最高工作温度和芯片测试案例
2022-04-24 11:21:33
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基于Chartered 0.35μm EEPROM CMOS工艺,采用全定制方法设计了一款应用于低功耗和低成本电子设备的8×8 bit SRAM芯片。测试结果表明,在电源电压为3.3 V,时钟频率为20MHz的条件下,芯片功能正确、性能稳定、达到设计要求,存取时间约为6.2 ns,最大功耗约为6.12 mW。
2022-03-24 09:51:55
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采用基于STC15F2K60S2单片机控制的集成电路芯片测试仪的设计方案，主要由检测电路、控制电路、4*4 矩阵键盘和lcd点阵液晶显示模块等组成。通过键盘输入型号, 单片机STC15F2K69S2 便可以对74 系列的多种芯片（00/04/08/32）进行逻辑功能测试。
2022-02-22 22:36:35
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今天无意间看到STC系列芯片手册上关于片上EEPROM的介绍，狂喜。原来STC单片机本身就有EEPROM的，可惜发现晚了点，不然很多同学的毕设上就可以省块24C02，也不用去搞那个IIC程序了。
下午花了点时间看了资料，然后写了个例子程序，本程序在STC89C52RC上测试，运行成功。
2021-12-21 16:41:16
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清华大学芯片测试讲义，主要内容包括：
1.可测试性测试和设计的基础知识
2.组合测试生成
3.故障模拟
4.顺序测试生成
5.内存测试
6.可测性测量
7.可测试性设计
8.边界扫描
9.内置自检
10. IDDQ测试
2021-12-02 18:48:59
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这是在STM32F407ZET6上运行的一个MS3110电容测量芯片的测试程序，并使用串口助手打印数据。
2021-10-05 14:01:30
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