芯片测试-清华大学讲义

芯片测试

清华大学芯片测试讲义，主要内容包括：

1.可测试性测试和设计的基础知识

2.组合测试生成

3.故障模拟

4.顺序测试生成

5.内存测试

6.可测性测量

7.可测试性设计

8.边界扫描

9.内置自检

10. IDDQ测试

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