行业分类-电子政务-一种灵活耦合的高速光电器件.zip

第3代半导体材料在光电器件方面的发展和应用.pdf

行业-电子政务-可集成光电器件及其制作方法、多个光电器件的集成方法.zip

完整英文版 IEC 60747-5-6：2021 Semiconductor devices - Part 5-6：Optoelectronic devices - Light emitting diodes（半导体器件 - 第5-6部分：光电器件 - 发光二极管）。IEC 60747-5-6:2021规定了一般工业应用中发光二极管（LED）的术语、基本额定值和特性、测量方法和质量评价，如信号、控制器、传感器等。 照明应用的LED不属于IEC 60747这一部分的范围。 LED的分类如下。 - LED封装。 - LED平面照明器。 - LED数字显示器和字母数字显示器。 - LED点阵显示器。 - 红外线发光二极管（IR LED）。 - 紫外线发光二极管（UV LED）。

完整英文版 IEC 60747-5-7：2016 Semiconductor devices - Part 5-7：Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors（半导体器件 - 第5-7部分：光电器件 - 光电二极管和光电晶体管）。IEC 60747-5-7:2016规定了光电二极管（以下简称 "PD"）和光电三极管（以下简称 "PT"）的术语、基本额定值和特性以及测量方法。本标准取代了IEC 60747-5-1、IEC 60747-5-2和IEC 60747-5-3中描述的光电二极管和光电晶体管的条款，包括它们的修正案。IEC 60747-5-1、IEC 60747-5-2和IEC 60747-5-3，包括它们的修正案，由于重建，被IEC 60747-5-4、IEC 60747-5-5、IEC 60747-5-6和IEC 60747-5-7的出版物取代。

完整英文版 IEC 60747-5-8：2019 Semiconductor devices - Part 5-8：Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes（半导体器件 - 第5-8部分：光电器件 - 发光二极管 - 发光二极管的光电效率的测试方法）。IEC 60747-5-8:2019规定了无荧光粉的单个发光二极管（LED）芯片或封装的各种效率的术语和测量方法。用于照明的白光LED不属于IEC 60747的这一部分的范围。本部分定义的效率的测量方法是功率效率（PE）、外部量子效率（EQE）、电压效率（VE）和光提取效率（LEE）。为了测量LEE，使用内部量子效率（IQE）的测量数据，其测量方法在IEC 60747-5-9和IEC 60747-5-10中讨论。注射效率（IE）和辐射效率（RE）仅给出定义。

完整英文版 IEC 60747-5-10：2019 Semiconductor devices - Part 5-10：Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point （ 半导体器件 - 第5-10部分：光电器件 - 发光二极管 - 基于室温参考点的内量子效率测试方法 ）。IEC 60747-5-10:2019(E)规定了无荧光粉的单个发光二极管（LED）芯片或封装的内部量子效率（IQE）的测量方法。用于照明的白光LED不属于本文件的范围。本文件仅利用在操作室温度下测量的相对外部量子效率（EQE）。为了确定参考IQE，找到对应于注入效率为100%的工作电流，辐射效率由该点的相对EQE的无穷变化决定。然后根据EQE与参考点数值的相对比值计算作为电流函数的IQE，这被称为室温参考点法（RTRM）。

完整英文版 IEC 60747-5-13：2021 Semiconductor devices - Part 5-13：Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages（半导体器件 - 第5-13部分：光电器件 - LED封装的硫化氢腐蚀测试）。IEC 60747-5-13:2021规定了加速测试方法，以评估用于LED封装的银和银合金因硫化氢而变色的影响。特别是，该测试方法旨在提供关于银和银合金变色对LED封装的发光/辐射通量维持的影响的信息。此外，本测试方法还可以提供由于银和银合金的腐蚀而导致的LED封装的电气性能信息。 本试验的目的是确定含有硫化氢的大气对以下材料制成的LED封装的影响：银或银合金；有另一层保护的银或银合金；覆盖有银或银合金的其他金属。

随着器件应用领域越来越广，电源设备变换功率越来越大，电磁干扰也相应增强。为此必须提高控制板的抗干扰能力，提高驱动耐压等级。于是，光纤的使用也就成为了必然。

刘恩科老师的大名相信大家都知道，半导体物理领域的牛人，我们不迷信权威，但是我们认为权威是具有重要参考价值的资源，看了你就知道什么叫经典了！