完整英文版 IEC 60747-5-8：2019 Semiconductor devices - Part 5-8：Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes（半导体器件 - 第5-8部分：光电器件 - 发光二极管 - 发光二极管的光电效率的测试方法）。IEC 60747-5-8:2019规定了无荧光粉的单个发光二极管（LED）芯片或封装的各种效率的术语和测量方法。用于照明的白光LED不属于IEC 60747的这一部分的范围。本部分定义的效率的测量方法是功率效率（PE）、外部量子效率（EQE）、电压效率（VE）和光提取效率（LEE）。为了测量LEE，使用内部量子效率（IQE）的测量数据，其测量方法在IEC 60747-5-9和IEC 60747-5-10中讨论。注射效率（IE）和辐射效率（RE）仅给出定义。