国产32位单片机兼容性测试非权威报告 描述AT32与STM32兼容性测试结果。使用户了解替换风险和可行性，为量产产品做准备。总共有近100项测试结果，测试报告权威客观。

完整英文电子版 xHCI Interoperability Test Procedures For Peripherals, Hubs and Hosts(外设、集线器和主机的 xHCI 互操作性测试程序)。xHCI 互操作性测试涵盖多个领域，包括设备框架、演示的操作以及设备操作和与其他 USB 设备共存的能力。它还可以深入了解设备和相关软件的可用性问题。 xHCI 互操作性测试使用称为 SSP 互操作树的 USB 外围设备排列。 USB 互操作性树包含以下特征： • 提供同步、批量、中断和控制流量 • 包含 5 层嵌套集线器后面的设备——允许的最大值 • 包含距离基于 xHCI 的控制器超过 15 米的设备 • 包含以 SuperSpeedPlus、SuperSpeed、Hi-Speed 和 Full Speed 运行的集线器 • 包含以 SuperSpeedPlus、SuperSpeed、高速、全速和低速运行的设备 xHCI 互操作性测试程序是通用的，应该适用于绝大多数设备。本文档无法涵盖外围设备、集线器、主机和嵌入式设备的所有可能类型、配置和组合。因此，可能需要修改 xHCI 互操作性测试程序的应用程序，以便充分测试设备的 USB 合规性

完整英文电子版 USB Power Delivery Compliance Test Specification(USB PD 一致性测试规范 R1.2/ V1.0 - 2020)。 本文档规定了 USB PD3.0 设备的 USB-IF 一致性测试。 本测试规范涵盖 USB-IF 测试，以符合 USB PD2.0 和 PD3.0 规范中第 5-8 章和第 10 章的要求。

USB PD CTS(Compliance Test Specification)更新到V1.2(2021-6-20), 主要覆盖有如下测试： 1， PD2/3的通用检查程序 2， 物理层测试 3， 协议（Protocol）测试 4， 供电（Power delivery）测试。

温州中学2020学年第一学期阶段性测试12.17 英语试卷（含答案）.doc

温州中学2020学年第一学期阶段性测试高一英语试卷.pdf

第一次写正式的测试用例，不太成熟，没有写凭条的取款业务，谨给大家一个参考和思路，希望大家能多多指正

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/001：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(General) -半导体器件的环境和耐久性测试方法(通用)。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法，旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中使用的分立半导体器件和集成电路（以下统称为半导体器件）在各种环境条件下的电阻和耐久性。 在其使用、储存和运输过程中出现的各种条件。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/300-3：2006 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I)-Amendment 3（半导体器件的环境和耐久性测试方法（压力测试 I）-修正案 3）。符合 EIAJ ED-4701/300 半导体器件的环境和耐久性测试方法(压力测试 1）。

完整英文电子版 EIAJ ED-4701/400：2001 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test II) - 半导体器件的环境和耐久性测试方法（应力测试II）。这些标准规定了环境试验方法和耐久性试验方法（特别是应力试验），旨在评估主要用于一般工业应用和消费应用的电子设备中的分立半导体器件和集成电路（以下统称半导体器件）在使用、储存和运输过程中出现的各种环境条件下的电阻和耐久性。