吉时利仪器公司日前推出专为低电压测试而优化的低成本方案—2400系列数字源表。新推出的2401型数字源表与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样，对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电流与电压(I-V)特性分析以及电阻测量等高精度测试应用进行了优化。

本文提供一个简单实用的电子管测试装置电路（Tube Tester），适用于DIY发烧友使用。工欲善其事，必先利其器，利用此装置能比较精确地检测电子管的静态工作点、互导和配对特性等，在胆机制作或摩机时就胸有成竹，成功在望。

智力测试的因素分析已经针对不同的临床人群进行了。 通过模拟组比较了具有边缘性智力功能（BIF）和智力残疾（ID）的儿童的韦氏儿童智力量表（第四版）（WISC-IV）的因子结构。 通过针对人工依赖的四因素模型的结构方程模型，通过多组分析对模拟组，边缘组和残疾组之间的测量不变性进行了测试。 结果表明，三组之间均支持度量不变性模型。 四个指标得分之间的相关系数表明，BIF可以部分解释为对智力测验的每个子测验做出反应时，广泛能力之间的抑制和抑制作用所致。 这种降解作用可能会降低患有某些临床问题的儿童的智商。 另一方面，ID可以部分理解为由广泛能力区域的不相关和孤立的激活组成的脑损伤。 结论是BIF和ID的因子结构和机制存在差异。

《光电子器件微波封装和测试》全书共12章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术，光注入技术及其应用。《光电子器件微波封装和测试》适合从事光电子器件教学与研究的科研工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考。   本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，先进性、学术性和实用性兼备。全书共十-章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术的总结。

器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。 因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡， 以取得最好的成本效率。

本系统包括前端处理网络、继电器断电控制电路、电参量测量模块、单片机键盘及显示电路等模块，可以实现交流信号的电压有效值、电流有效值、有功功率、电能、功率因数和频率等的测量，同时完成各电参量的LCD实时显示，大电流检测报警及电能不足报警。SPCE061A单片机主要用于控制LCD显示各电参量，由键盘输入设定值，以及继电器的通断。系统还扩展了语音播报，谐波功率分析等功能。

如何利用示波器测量uA级电流和uV级电压？docx,当前最火的一个行业当属物联网，而物联网产品设计所面临的挑战是如何最大限度延长其超小体积电池的供电时间。这些智能设备，包括智能家电和工业传感器节点，充电一次要能够工作很长的时间，有很多智能可穿戴设备目前也是受限于电池供电时间而无法真正普及。

测试和表征电源时，最主要的测量工具是示波器。目前有许多示波器 ( 包括 Keysight InfiniiVision X 系列 ) 可以提供特殊的功率测量选件，以帮助工程师自动实施最重要的测量。下文介绍了用示波器测量电源的抑制比。

EtherCAT：测试测量技术的标准总线 EtherCAT P：测控技术的“创新之举” 倍福测量链：从数据采集到分析的无缝集成 TwinCAT 3：测试测量技术的统一平台 TwinCAT 3：基于 Windows 的实时测控仿真软件平台 TwinCAT 3：支持 IEC 61131-3 编程语言 TwinCAT 3：支持 C/C++ 编程和实时运行 TwinCAT 3：支持：Matlab®/Simulink® 模型实时运行 TwinCAT：与 LabVIEW 无缝连接 TwinCAT Measurement：最大化硬件潜力 EtherCAT 超高速数据采集模块和 XFC 极速控制技术

光伏组件测试中二极管等问题及解决方案汇总pdf,在我们公司的165W 组件（6X 12） 设计中采用了24 片电池串并联一个型号的整流二二极管，用来消除组件的热为P600D （正向电流6A，正向电压为0.9V ）斑效应。因为165W 组件的组件共有72 电池片串联，所以每一块组件中并联了3个P600D 这样的整流二极管。但由于组件电池串之间的不均匀和模拟光的不均匀，会造成测量中IV 曲线的台阶现象。如下图所示：