JTAG接口简介 JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。 JTAG接口的主要特点是： 1. 支持芯片内部测试和仿真调试。 2. 允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。 3. 可实现对芯片内部的所有部件进行访问。 JTAG接口的标准定义为4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示： 14针JTAG接口定义： * 1-13针为VCC电源 * 2-4、6、8、10、14针为GND接地 * 3针为nTRST测试系统复位信号 * 5针为TDI测试数据串行输入 * 7针为TMS测试模式选择 * 9针为TCK测试时钟 * 11针为TDO测试数据串行输出 * 12针为NC未连接 20针JTAG接口定义： * 1针为VTref目标板参考电压，接电源 * 2针为VCC电源 * 3针为nTRST测试系统复位信号 * 4-6、8、10、12、14、16、18、20针为GND接地 * 5针为TDI测试数据串行输入 * 7针为TMS测试模式选择 * 9针为TCK测试时钟 * 11针为RTCK测试时钟返回信号 * 13针为TDO测试数据串行输出 * 15针为nRESET目标系统复位信号 * 17、19针为NC未连接 在实际应用中，JTAG接口常用于实现ISP（In-System Programmable，在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。 通过JTAG接口，可以对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。 在实际应用中，需要注意JTAG接口的电路设计和布局，以确保JTAG接口的可靠性和稳定性。 此外，JTAG接口还可以与其他调试工具结合使用，例如ADS和SDT，以提供更加强大和灵活的调试功能。 在开发调试嵌入式系统时，JTAG接口是一个非常重要的工具，可以帮助开发者快速和高效地调试和测试系统，提高开发效率和产品质量。

jtag_vpi TCP / IP控制的VPI JTAG接口。 +------------------+ +-----------------+ +------------------+ +----------+ + + + + + + + + + Testbench client + <=> + JTAG VPI server + <-> + JTAG VPI verilog + <--> + JTAG TAP + + + + + + + + + +------------

jtag 接口汇总，各种接口的线序，下载后，对于jtag接口的线序，再也不用到处查了

介绍了什么是JTAG及JTAG接口简介，对如AVR单片机中使用的JTAG接口做了简单的介绍。

通过 JTAG接口进行 MSP430™ 编程（中文），官网下载的文档，分享给大家

复位电路用于重新启动模块并初始化，按键开关SW1的一端接地，另一端与CC2530芯片的RESET_N管脚相连，按下按键开关SW1即可实现对电路的手动复位。

因为IO口紧张，在原理绘制期间就利用了PB3和PB4，但是在调试程序的时候才发现，PB3和PB4控制不了。

JTAG接口电平转换电路原理图 并行JTAG接口实现5V与3.3V转换,确保PC机与DSP芯片安全

20pinJTAG接口转SWD接口原理图，PCB版图及材料明细图。

JTAG调试接口的结构如图1所示。它由测试访问端口TAP（Test Access Port）控制器、旁路（bypass）寄存器、指令寄存器和数据寄存器，以及与JTAG接口兼容的ARM架构处理器组成；处理器的每个引脚都有一个移位寄存单元，称为边界扫描单元BSC（Boundary Scan Cell），它将JTAG电路与处理器核逻辑电路联系起来，同时，隔离了处理器核逻辑电路与芯片引脚；所有的边界扫描单元构成了边界扫描寄存器BSR，该寄存器电路仅在进行JTAG测试有效，在处理器核正常工作时无效。 　　图1 JTAG调试接口示意图 　　（1）TAP（测试访问端口）控制器 　　TAP控制器对嵌