自由曲面匀光透镜被广泛应用于发光二极管(LED)照明中。传统的基于几何近似的自由曲面求解方法，由于存在建模误差，导致求解的面型不够精确，照明面均匀性下降。提出了一种误差分析及补偿方法，通过建立面型误差和出射角度误差之间的联系，结合光线追迹，实现了面型误差的准确量化和修正。采用该方法，针对1000 mm 工作距离，直径200 mm 照明范围的景观照明透镜进行了补偿设计，并用Lighttools 软件进行了仿真。结果表明：点光源模拟情况下，相对于传统几何近似求解方法，照明均匀性(最小照度/平均照度)由68.0%提升到98.5%；1 mm×1 mm尺寸LED 光源模拟情况下，在直径160 mm 的照明范围内，均匀性达到91.8%，具有良好的实用性。

电阻抗层析成像是一种成像方法，它试图根据电边界条件揭示畴的电导率分布。 对于时间差EIT，采用两个时间步长的电压差进行重构。 这是一个不适定的逆问题，尤其是非线性的。 当前可用的EIT设备全部基于线性化重建算法。 线性化重构采用重构矩阵，该重构矩阵本质上是雅可比矩阵的正则化伪逆。 该重构矩阵乘以电压差将提供电导率变化的分布。 但是，线性化重构包含建模误差。 在本文中，我们通过仿真研究了基于并联模型的线性化引起的建模误差。 在仿真中指定电流注入模式后，可以在每个时间步长上根据麦克斯韦方程式计算仿真电压测量值。 可以获得两个时间步长之间的电压差。 另一方面，根据线性化重建的假设，假定电压差为乘以电导率分布变化的雅可比矩阵。 将研究这两个电压差之间的差异。