半导体存储器测试概论，主要内容包含：
1.存储器测试流程
2. Wafer Sort 流程
3. Assembly 流程
4. Fianl test流程
5. Test item简介
6. Continue test
7. input leakage test
8. out put leakage test
等等，详见文档。
2023-02-24 13:18:05
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GB∕T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf
2021-12-26 17:19:57
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SPI接口FM25CL64铁电存储器测试读写代码,在PICC18上编译通过.如果有任何疑问,可以联系我来解答.QQ52478116
2021-09-13 11:14:41
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为了提高飞行参数的测试水平，以完善飞行体的发射可信度，详细论述了一种飞行参数采编存储测试系统的设计原理及其应用。它采用现场可编程门阵列（FPGA），通过编写VHDL程序代码，实现了对采编器和存储器的控制。在此，从方案设计、软硬件实现、数据采编及存储等角度研究并描述了多路数据采编存储测试系统的设计，提出在存储器中安装一个信标，以提高采编存储系统抛撒后的回收率。实践证明，该系统的采编存储效果良好。
2021-07-24 11:37:03
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