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半导体存储器测试概论
半导体存储器测试概论
上传者:
38704284
|
上传时间: 2023-02-24 13:18:05
|
文件大小: 1.03MB
|
文件类型: PDF
半导体存储器测试
半导体存储器测试概论,主要内容包含:
1.存储器测试流程
2. Wafer Sort 流程
3. Assembly 流程
4. Fianl test流程
5. Test item简介
6. Continue test
7. input leakage test
8. out put leakage test
等等,详见文档。
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