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IGBT参数测试IEC标准四-安全工作区

dynamic parametric test system for discrete semiconductors The ITC57300 Dynamic Parametric Test System mainframe accepts Test Heads that perform nondestructive transient measurements on semiconductor devices such as Insulated Gate Bipolar Transistors (IGBT), power MOSFETs, diodes, and other bipolar devices(requires additional optional bias power supplies and custom personality boards). Included in the mainframe are all test equipment and software necessary to analyze and perform resistive and inductive switching time, switching losses, gate charge, Trr/Qrr, and other transient tests. Test Heads, which are designed for a specific type of transient test, mate to a special Test Head Receiver on the mainframe. While Test Heads are designed to perform only one specific test, personality boards within each Test Head reconfigure the Test Head for a specific device, device package, and various device circuit arraignments.

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本文通过对参数测试技术中和校准方法采用传统的项系统误差模型进行理论分 析和比较, 给出这两种校准方法的主要特点和适合的测试环境, 并用实际测试结果进行验证, 测试结果表明理论分析 结果与实际测试相吻合。

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