使用长基线带电和中性电流数据的中微子衰变寿命约束

上传者: 38686231 | 上传时间: 2025-07-16 11:32:28 | 文件大小: 515KB | 文件类型: PDF
我们调查了MINOS和T2K实验中带电和中性电流数据涉及振荡和衰减的场景的状态。 我们首先提出在振荡与衰减的框架中从MINOS的带电电流中微子和反中微子数据的分析,并获得非零衰减参数γ3的最佳拟合。 MINOS带电和中性点电流数据分析的结果最适合| m322 | = 2.34×10×3 eV2,sin2×23 = 0.60和零衰减参数,该参数对应

文件下载

评论信息

免责申明

【只为小站】的资源来自网友分享,仅供学习研究,请务必在下载后24小时内给予删除,不得用于其他任何用途,否则后果自负。基于互联网的特殊性,【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查;无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查,用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场,基于网友分享,根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定,若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员,zhiweidada#qq.com,请把#换成@,本站将给予最大的支持与配合,做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明