GaN雪崩光电二极管的电场分布和器件设计

上传者: 38606019 | 上传时间: 2021-10-21 23:12:27 | 文件大小: 596KB | 文件类型: -
我们研究了在不同的反向偏置值下,pin型和独立吸收与倍增(SAM)型GaN雪崩光电二极管中电场的分布。 我们还分析了每一层参数(包括宽度和浓度)对电场分布(尤其是击穿电压)的影响。 发现较高的p-GaN浓度(高于1x10(18)cm(-3))和较低的i-GaN载流子浓度(低于5x10(16)cm(-3))有助于限制电场并降低击穿电压。 在SAM(PININ)结构,合适的选择应为浓度与中间的n-GaN层的厚度,以恶化为销结构降低击穿电压和防止设备制成。 最后,提出了各层材料的优化参数。

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