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IC测试基本原理和ATE测试向量生成
IC测试基本原理和ATE测试向量生成
上传者:
38548507
|
上传时间: 2021-08-12 14:54:13
|
文件大小: 108KB
|
文件类型: PDF
IC
测试
基本原理
ATE
本文在Modelsim环境下,通过Verilog HDL语言建立一个器件模型,搭建一个验证仿真平台,对164245进行了仿真,验证了164245的功能,同时得到了ATE所需的图形文件,实现了预期所要完成的任务。
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