通用自动测试设备（ATE）接口介绍,是一个简单而有用的介绍，尤其是对初学者。

ATE测试界面源码 源码描述： 一、源码介绍 用于照明行业ATE测试系统界面，欢迎下载学习使用 二、注意事项 开发环境为Visual Studio 2010，数据库为Access，使用.net 4.0开发。

将二进制bin文件转换为ATE测试向量模式

ATE(Automatic Test Equipment：自动测试设备)测试，即采用相关的ATE设备，开发相对应的测试程序进行测试，此测试程序往往仅包含必要的系统级的测试项目，它主要用于芯片的量产测试。SoC芯片射频部分的测试由于牵扯到射频信号的完整性和电磁兼容以及基带算法复杂多样等问题，往往成为SoC芯片测试的难点。

介绍Shmoo测试的论文，介绍了shmoo的起源，在现代IC测试中的作用等。 作者：Keith Baker* and Jos van Beers‘ 完整版

集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 　　1 IC 测试 　　1.1 IC测试原理 　　IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。 　　根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试

Tebo-ICT是一种非常专业的 ICT、ATE测试治具制作软件，中文界面人 性化设计，兼容Win98/2000/NT/XP 系统，操作方便，培训更简易。按客户 的选点要求订制不同的选点规则及条件，特别是对多层板的选点过程中， 客户可以充分体会到该系统的速度及正确率；它解决了其他软件在选点时 无法与客户互动勾通的难题；具有强大的编辑功能使客户可以根据生产的 工艺对资料以及软件设置文件进行修改，以求得到最佳设计；各层间可以 透明显示，效果能达到专业工作站的水平，是其他软件无法比拟的，大幅 度了提高产品的可制造性。能够处理各种GERBER 以及埋盲孔、正负片资料； 同时具有多种CAD 接口，处理资料省时省力，是制作高精密、复杂ICT、ATE 测试治具最佳选择。

电源服务器自动测试系统，ATE 8000测试操作指南，中文版，Chroma8000操作手册，对自动测试感兴趣的可以看下，帮助很大。

The J750 HSD100 digital channel board drives digital signals to the DUT and receives signals from the DUT at up to 100 MHz. Each J750 test system can have up to eight digital channel cards in a 512 channel test head or 16 digital channel cards in a 1024 channel test head with 64 digital channels on each channel card. The digital channel cards are air cooled and can be inserted into any of the channel card slots in the test head. Pin electronics on the digital channel cards connect to the DUT pins.

更新至1.0.0.5版本 自动化技术研究：http://www.extrem-auto.com.cn C#版的自动化测试平台，参考HW测试与装备部的ATE V3平台，用了10余年平台，离职后还挺怀念，随用C#模仿开发了一个类似的框架。大概思路是界面框架只负责显示，调用dll，保存记录。用户只需开发测试dll即可，一个测试项即一个类，测试顺序由xml文件决定。仪器仪表驱动也是dll，相互调用。还有些不完善的地方，将会持续改善。