CHROMA 3380P测试机编程资料

CHROMA 3380P测试机是一种先进的测试设备，专门用于进行半导体测试系统中的高精度测量。该设备提供TMU功能，即时间测量单元，用于进行精确的时间测量。TMU功能的引入主要解决异步波形时序测量的问题，减少特定测量类型所需的时间，并分析非周期性波形，同时可以测量引脚间的时延。 CHROMA 3380P测试机的TMU规格包含多个方面。每个TMU单元包含32个通道，每个通道可以独立进行测量，最多允许同时对32个引脚进行测量。每个TMU引脚可以分配给任何测试站点使用。TMU单元的性能参数包括波形采样率高达625皮秒，时间测量范围可达40秒，支持多种事件日志模式用于长时间的测量。在边沿瞬态检测方面，提供了两种模式：普通电平模式和施密特触发模式。测量模式则包括脉冲低、脉冲高、周期、上升沿时间、下降沿时间、占空比、引脚间时延等。此外，波形分析方法包括通过LXPG2微指令触发和HOST CPU触发。 在编程方面，CHROMA 3380P测试机提供了TMU编程指导，包括SET_TMU_WORK_MODE和READ_TMU_LOG_MEM_BLOCK等关键函数。其中，SET_TMU_WORK_MODE函数用于设置TMU工作模式，包括触发模式、边沿瞬态检测模式、延迟、日志长度和捕获类型等多个参数。READ_TMU_LOG_MEM_BLOCK函数用于读取TMU日志存储块，支持对特定事件进行起始事件、结束事件和PEL数据的获取。 CHROMA 3380P测试机的TMU功能为半导体测试提供了强大的支持，能够帮助工程师高效、精确地完成测试任务。通过编程控制TMU单元，用户可以灵活地设定测量参数，优化测试流程，并获取详细可靠的测试数据。