JEDEC JESD22-A108F：2017 温度，偏置和使用寿命 - 完整英文版（10页）
完整英文版JEDEC JESD22-A108F：2017 Temperature, Bias, And Operating Life（温度，偏置和使用寿命）。本测试用于确定随时间推移偏置条件和温度对固态设备的影响。 它以加速的方式模拟设备的运行状况，主要用于设备鉴定和可靠性监控。 使用短时间的高温偏压寿命的一种形式（通常称为老化）可用于筛查与婴儿死亡率有关的故障。 老化的详细使用和应用不在本文档的范围之内。
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铁樵 :外网的材料需要45美元（总共14页）， 感谢楼主提供这个材料，可是只有10页， 而且最后两页还是空白。2021-06-23 -
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