这些程序使用多切片方法计算能量范围约为 60 keV 至 1000 keV 的电子,根据第一原理计算薄样品的高分辨率常规和扫描透射电子显微镜 (CTEM、STEM) 图像。 基本理论和用法在“Advanced Computing in Electron Microscopy”(Springer 2010,2020-in press)和Acta Cryst 中有描述。 A72 (2016) p. 1 厄尔·J·柯克兰 (Earl J. Kirkland)。 有关计算原理以及如何使用这些程序,请参阅这些。 computem 使用 GUI,而 temsim 组使用命令行界面。 假设用户在研究生或高级本科阶段对光学、傅里叶变换、电子显微镜和计算机技能有一定的了解。 单击“文件”下载 Windows 和 Mac 二进制可执行文件或源代码。 所有代码均按原样提供,在 GNU 公共许可证 (GPL) 的法律允许范围内,绝对不提供任何形式的保证或保证。
2021-10-26 16:24:27
3.41MB
开源软件
1