扫描近场光学显微镜原理及其应用
扫描近扬光率显微镜（SNOM）是八七年代以来迅速发展起来的一种光学扫描探针显微技术。本文对SNOM的发展历史、基本原理、技术方法、理论问题及应用前景进行了系统的介绍。
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