完整英文版 IEC 60749-23：2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23：High temperature operating life（半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分：高温工作寿命）。IEC 60749-23:2004+A1:2011 用于确定偏置条件和温度随时间推移对固态器件的影响。 它以加速方式模拟设备运行条件，主要用于设备验证和可靠性监控。 一种使用短时间的高温偏置寿命形式，通常称为“老化”，可用于筛查与婴儿死亡率相关的故障。 老化的详细使用和应用不在本标准的范围内。 本合并版由第一版（2004 年）及其修订版 1（2011 年）组成。 因此，除本出版物外，无需订购修改。
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《新高考数学专题强化》考点23 二元一次不等式（组）与简单的线性规划.pdf
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完整英文电子版 ISO/TS 22002-2：2013 Prerequisite programmes on food safety - Part 2：Catering (食品安全的先决条件 - 第二部分：餐饮业 )。ISO/TS 22002-2:2013 规定了设计、实施和维护前提方案 (PRP) 的要求，以协助控制餐饮业的食品安全危害。
ISO/TS 22002-2:2013 适用于所有参与食品和膳食的加工、准备、分销、运输和供应并希望根据 ISO 22000:2005, 7.2 中规定的要求实施 PRP 的组织 .ISO/TS 22002-2:2013 的范围包括餐饮、空中餐饮、铁路餐饮、宴会等，在中央和卫星单位、学校和工业餐厅、医院和医疗保健设施、酒店、餐厅、咖啡店、食品 服务和食品商店。
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