暗电流在科学级电荷耦合器件(CCD)长时间曝光测试实验中是主要的噪声之一。实验测试了暗电流信号平均计数随曝光时间的变化关系，并经过计算得出-10 ℃和-20 ℃下暗电流分别为2.43 ADU/(s·pixel)和0.4854 ADU/(s·pixel),同时测试了暗电流随CCD制冷温度的变化特性，结果显示暗电流随温度类似指数函数形式变化。由于CCD机械快门的时间响应特性对科学级光学CCD的短时曝光计数的影响比较大，实验测试了CCD平均计数和曝光时间的关系，得出实验所用的TEK 512 pixel×512 pixel DB CCD的机械快门在18 ms时能够完全打开。
2021-02-09 09:06:39
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本简易电路特性测试仪由AD9851频率合成器、STC89C52RC主控制器、LM324放大跟随器组成。通过对被测电路的理论计算得出放大倍数以及被测参数的理论值，进而采用高分辨率AD芯片xpt2046进行数据采集，将采集到的数据分别与DDS输出的两路正交信号通过模拟乘法器进行乘法混频，通过低通滤波器取得含有幅频特性与相频特性的直流分量，再由高精度A/D转换器传递给STC89C52RC主控制器，由主控制器对所测数据进行分析处理，最终测得特定放大器电路的特性，进而判断该放大器由于元器件变化而引起故障或变化的原因，并同时通过LCD12864绘制相应的频幅特性曲线，从而完成对被测电路的特性测试。
2019-12-21 20:06:01
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2013年电子设计竞赛E题《简易数字信号传输性能分析仪》源代码，dds部分采用verilog，液晶部分采用单片机，有详细注释，获北京市二等奖
2019-12-21 19:28:38
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