电能质量测量参考标准

摘要：介绍了以单片机为核心，通过倍频电路实现的两同频正弦信号相位差测量的设计，并对该系统的硬、软件作了比较详尽的阐述。关键词：单片机，倍频电路，相位差 1引言本设计目的在于测量出任意两相同频率正弦信号之间的相位差，并将测量结果以数字形式显示出来。具体实现方法为：先通过比较电路将两路同频信号分别转换为相应的脉冲信号，然后将其中的一路信号通过反相器取反后与另一路信号相与，得到一等脉宽的脉冲波形，此脉冲波形的脉宽t，即表示两信号的相位差。将原信号对应的任意一路脉冲信号（周期为T）倍频后，作为单片机计数器的计数脉冲，并对相位差脉冲记数，得记数值为W。设倍频电路的倍频系数为A，则记数脉冲周期为T

该设计分享是一款简单易做而又实用的数字式电容表资料，包括其原理图/固件/使用手册等。该电子测量1pF-500uF数字式电容表可以轻易测到引线的电容。该数字式电容表具有体积轻小，便于携带，使用方便，高精度，具有量程自动转换功能。同时，可以通过串口向PC传送实时的测量结果。电子测量1pF-500uF数字式电容表实物截图: 电子测量1pF-500uF数字式电容表参数如下: 数字式电容表特点: 精度优于2％ 测量范围:1pF - 500uF 自动量程开关 归零可用 实时串行输出测量读数与时间戳 成本低，易于构建 尺寸:75mm X 58mm X 15mm 具体器件组成如截图:

测绘工程专业课|测量学复习资料

边长测量方法及其数值显示， 主要功能：根据图片大小，测量出管脚的实际宽度和距离。

有时需要测量特定嵌入式代码在给定目标硬件上执行所需的时间。 例如，实时应用需要在不超过周期时间（程序循环时间）的时间段内执行，否则会产生timer-over run错误。 我们需要知道执行时间的另一个原因是比较执行相同任务的不同算法的计算负载，以了解它们在计算负载和执行速度方面的优势。 对于那些使用基于模型的方法并专门使用 Simulink 进行实时应用程序编程并且需要一种简单的方法来遵循的人，我们提供了这个简短的指南。 由于 Simulink 编码器使他们与生成代码的距离相对较远，因此他们可能会面临这种衡量的困难，而那些在 Code composer Studio 中直接使用 C 编码的人可能不会面临这种困难！ 为避免失去一般性并使本指南有用，本指南中使用的模型和模块（或子系统）的具体名称将使用红色字体进行编辑，以突出显示它们的执行时间知识。当您为自己的模型/模块重复示例时，将它们替换为

F103C6T6核心板定时器资源比较少，所以被迫使用高级定时器1，用到的定时器是TIM1通道1，通过上升沿进行捕获，获取两高电平之间的时间差，实测频率，可用，精度高

为了减小激光外差干涉纳米测量的非线性误差,必须明确检偏器旋转误差对非线性误差的影响机理与消除方法。通过分析激光外差干涉检偏器旋转误差对非线性误差的影响,推导出检偏器旋转误差对非线性误差一次谐波和二次谐波的影响模型。仿真结果表明,当存在激光束椭圆偏振时,检偏器旋转误差对非线性误差的影响很小；当存在偏振分光镜旋转误差时,检偏器旋转误差引起的非线性误差不增加二次谐波分量,但增大了非线性误差一次谐波分量,严重影响非线性误差的大小,当偏振分光镜旋转误差为3°时,检偏器旋转误差从0°增加到5°,非线性误差从0.14 nm增大到0.97 nm。

在深入分析二维高斯分布公式的基础上，通过将光斑中心整像素坐标和亚像素坐标进行分离，推导出一种无需求解广义逆矩阵的高斯曲面解析算法，该方法综合利用窗口内的所有像素灰度信息，通过解析表达式直接计算高斯分布光斑的亚像素中心位置；并且对传统高斯曲面拟合法求解过程进行了优化，提出一种更加高效的定参高斯拟合法。与传统高斯曲面拟合法相比，提出的两种方法具有基本相同的稳定性和定位精度，但运行效率分别提高了278倍和78倍以上。

通过视觉效果测量工件尺寸的测量，一种基于视觉的程序设计