这个 m 文件处理从 s 组受试者或多个样本获得的 t 时间点的重复测量。 有或没有相同的尺寸。 最简单的模型是： x_hij = m + g_h +t_j + (gt)_hj + p_i(h) + e_hij 其中： x_hij = h 组中第 i 个受试者在时间 j 的响应； m = 总体平均值； g_h = h组的固定效应； t_j = 时间 j 的固定效应； (gt)_hj = 第 h 组与第 j 次交互的固定效应； p_i(h) = 第 h 组中第 i 个受试者的随机效应，e_hij = 独立随机误差项。 因为我们有兴趣测试组间差异，测试时间点之间的差异，并测试组 x 时间交互的显着性。 第一个测试需要假设组内协方差矩阵相等。 最后两个测试需要相同的假设并且满足球形条件。 一般而言，所有受试者内效应（重复测量）测试都需要这些假设。 输入： X - 数据矩阵（矩阵的大小必须

单向重复测量方差分析用于分析自变量和因变量之间的关系。 它是相关组 t 检验的扩展，其主要优点是控制可能影响因变量的干扰变量或个体差异。 与独立组方差分析（受试者间）相比，重复测量程序通常更强大（即导致更大的可能性通过假设拒绝错误的零值）。 从统计上讲，这是因为参与者之间的个体差异导致的不需要的可变性（错误）可以量化并从 F 比率的分母中删除。 此过程需要较少的参与者，但它可能会引起研究混淆，例如顺序或实践效果以及参与者偏见。 总可变性分为两个部分： - 科目之间。 由于参与者之间的个体差异而导致的分数可变性。 - 科目内。 受试者内部变异性细分为以下组成部分： -治疗。 处理平均值之间的差异（与独立组方差分析中的 MS 相同）。 -剩余的。 剩余的或不需要的错误可变性（可以被认为是对参与者的治疗效果的不一致）。 它需要输入 X 数据矩阵（矩阵的大小必须是 n×3；因变量=第 1

******** 警告 ********* 该程序最初是在 MATLAB 不支持重复测量方差分析时发布的。 但是，自几个版本之前，MATLAB 统计工具箱已添加此功能（请参阅 fitrm 函数）。 因此，该程序现已弃用，不再推荐。 问题是它只支持 fitrm 可以解决的问题的一个非常小的子类。 此外，它可能没有像 fitrm 那样经过广泛的测试，因此它可能不会在所有情况下都产生正确的结果。 我将程序保持原样，但将不再维护。 ****************************** [p, table] = anova_rm(X, displayopt) 执行重复测量方差分析，以比较一个或多个样本（组）中两列或更多列（时间）的均值。 尽管列数（跟进）应该相同，但支持不平衡样本（即每组不同数量的受试者）。

通过对螺栓点云的处理计算螺栓的高度，可用于螺栓高度的比对，用于判断螺栓是否松了，里面包含halcon的算法hdev源码及对应的ply格式的点云数据，由于数据扫描用的3d相机精度不是很高，所以只是展示算法内容

JCamerPro 正式版，0积分下载，这是一款通用的USB摄像头图像读取及测量工具，同时支持静态图片读取，兼容市面上大部分USB摄像头及UVC协议摄像头，拥有极其丰富的图像参数调节，带有多种图像处理功能，方便分析图像与获取兴趣区域，实用又高效的图像测量工具，直方图、波形图一应俱全，是工业镜检与生物镜检与测量的轻量化绝佳工具。兼容高分辨率屏幕，界面清晰不模糊，UI不错位，图像低延时。需要WIN7sp1 64bit 以上版本的Windows操作系统，推荐使用WIN10 64bit / Win11 64bit运行。软件详情：http://www.jfirmware.com/jcamerapro

制造企业内部测量工具很多，一般都需要做年检，维护等工作，本系统按ISO9001标准要求，建立量具档案，年检提醒，内检记录和报告形成等

本文采用的阻抗测量芯片AD5933，是一款具有很高的集成度的片上系统，片上集成了DDS、12位的ADC和实现DFT算法的DSP，作为一个片上系统本身就具有抗外界噪声干扰和简化测量电路的优点。

1 引言 　　测量温度的传感器有几种。为具体应用选择适当的温度传感器取决于待测温度范围以及所需的精度。系统精度取决于温度传感器的精度以及对传感器输出进行数字化的模数转换器的性能。在多数情况下，由于传感器信号非常微弱，因此需要高分辨率模数转换器。Σ-Δ模数转换器具有高分辨率，因而非常适合这种系统，而且这种转换器往往包含温度测量系统所需的内置电路，如激励电流源。本应用注释主要介绍可以利用的温度传感器（热电偶、电阻温度检测器（RTD）、热敏电阻器与热敏二极管）以及连接传感器与模数转换器所需的电路，并介绍对模数转换器的性能要求。 　　热电偶 　　热电偶由两种不同类型的金属组成。当温度高于零

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